KTE V5.3加速并簡化了S530測(cè)試系統(tǒng)到測(cè)試平臺(tái)的集成

? 同一種測(cè)試方法和測(cè)試方案適用于所有吉時(shí)利自動(dòng)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，這不僅縮短了使用多個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試工程師和操作人員的學(xué)習(xí)過程，而且在測(cè)試平臺(tái)增加新的高速系統(tǒng)或取代較早平臺(tái)時(shí)提供平滑的移植路徑以保護(hù)晶圓廠的測(cè)試開發(fā)投入。

? 用戶只需重新編譯和重新生成多年來為更早的吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的常用用戶庫，就能繼續(xù)在S530上使用這些用戶庫。通常，只需進(jìn)行少量調(diào)試。

? KTE V5.3簡化了創(chuàng)建條件測(cè)試序列的新用戶訪問點(diǎn)（UAP）源代碼以及定制S530的系統(tǒng)工作流程。為早期吉時(shí)利系統(tǒng)開發(fā)的UAP源代碼適用于S530系統(tǒng)，只需作少量調(diào)整。

? KTE的工具對(duì)吉時(shí)利所有參數(shù)測(cè)試平臺(tái)都具有完全相同的功能性。

    面向S530的KTE適于在標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)PC的Linux操作系統(tǒng)上運(yùn)行以確保長期穩(wěn)定性和易于維護(hù)性。該軟件已針對(duì)高吞吐率生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境作了速度和擴(kuò)展可靠性的優(yōu)化。運(yùn)行KTE V5.3的S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)過程控制監(jiān)控、過程可靠性監(jiān)控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測(cè)量。S530系統(tǒng)針對(duì)必須適應(yīng)廣泛產(chǎn)品組合的生產(chǎn)參數(shù)測(cè)試環(huán)境，或者在寬范圍應(yīng)用靈活性和快速測(cè)試方案開發(fā)等至關(guān)重要的場(chǎng)合中的使用進(jìn)行了優(yōu)化。